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【24h】

FPGAのスイッチマトリクスを対象としたソフトエラー対策

机译:FPGA开关矩阵的软错误对策

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摘要

近年,プロセス微細化によりソフトエラーの問題がさらに深刻化するといわれている.特にSRAMにおいてソフトエラーの問題は深刻となってきており,様々な対策が講じられてきている.本稿では,SRAMベースFPGAのルーティングを制御するバストランジスタのメモリにASRAMを利用することで,ソフトエラーに対して有効な手法を提案する.コンフィギュレーションビットの0の存在比率がある一定値を超えれば,エラー耐性について3重化よりも本提案は有効であることを確認した.%Recentry, a soft error becomes a serious probrem as the process shrinking. Especially, SRAMs seriously suffer from a soft error, and thus various techniques have been proposed to deal with it. In this paper, we propose a technique to utilize ASRAM for the memory cells to control the pass transistors in an SRAM based FPGAs. We confirmed that the proposed techniques have high error tolerance than that of TMR when the ratio of O's in the configuration bits are larger than some constant value.
机译:近年来,由于工艺的小型化,软错误的问题变得更加严重。特别是在SRAM中,软错误的问题变得严重,并且已经采取了各种对策。在本文中,我们提出了一种有效的方法来解决软错误,方法是将ASRAM用于控制基于SRAM的FPGA布线的总线晶体管的存储器。可以肯定的是,如果配置位的0的存在比率超过某个值,则该方法比三重方法更有效。 %centuryry,随着过程的缩小,软错误成为一个严重的问题,尤其是SRAM严重遭受软错误的困扰,因此提出了各种技术来解决它。存储单元以控制基于SRAM的FPGA中的传输晶体管。我们确认,当配置位中O的比率大于某个常数时,所提出的技术具有比TMR更高的容错能力。

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