事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト

摘要

低電力設計の進展とともに，テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している.過剰な電力消費やIRドロップによるテスタフエールやクロックの遅れによる見逃し不良などが現場での問題として認識されている.本論文では，電力およびノイズを考慮したスキャンテスト方法を提案する.その特徴は，事前のテスト時電力・ノイズの見積り結果に基づき，テスト容易化設計（DFT）やテスト生成（ATPG）を実行する点にある.評価実験によりスキャンシフト時およびスキャンキャプチャ時のIRドロップが効果的に低減されることを示す.%Advances in low power design technologies is making issues on power dissipation and IR-drop in testing more serious. Excessive test power or excessive IR-drop in testing can sometimes cause tester fails or yield losses in test floor. This paper proposes a power and noise aware scan test methodology to overcome the issues. The proposed methodology utilizes the result of preliminary estimation of power dissipation and IR-drop in testing in design for testability and automatic test pattern generation. Experimental results illustrate the effectiveness of our methodology for reducing maximum IR-drops in both scan shifting and scan capturing effectively.