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Reliability of All Possible Series-Parallel Redundant Structures of M I.I.D. Units with Two Failure Modes

机译:M I.I.D.所有可能的串联-并联冗余结构的可靠性具有两种故障模式的单元

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摘要

The paper presents a method for generating systematically and exactly all possible series-parallel (s-p) structures for several i.i.d. units. The method is modified in order to calculate the failure probabilities and reliabilities of all the possible s-p redundant structures for the i.i.d. units with two failure modes. Included is an example of finding an optimal s-p redundant structure subject to four constraints for reliability (two for failure probabilities and two for fail-safe).
机译:本文提出了一种方法,可以针对多个i.i.d系统准确地生成所有可能的串并联(s-p)结构。单位。修改了该方法以便计算i.i.d的所有可能的s-p冗余结构的故障概率和可靠性。具有两种故障模式的设备。其中包括一个示例,该示例找到一个受四个可靠性约束(两个故障概率和两个故障安全约束)的最佳s-p冗余结构。

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