机译:基于SRAM的FPGA中的辐射引起的多位翻转
SRAM chips; field programmable gate arrays; proton effects; SRAM-based FPGA; Xilinx field-programmable gate arrays; heavy ion static saturation cross-sections; proton ion static saturation cross-sections; radiation-induced multibit upsets; triple-modular redunda;
机译:在超应答互动点处监控基于SRAM的FPGA的单个事件UPSET
机译:在标称电压下工作的45nm和28nm大容量基于CMOS SRAM的FPGA中电子引起的单事件翻转
机译:基于SRAM的FPGA中子引起的单事件扰动的缓解和实验
机译:一个自托管配置管理系统,可减轻基于SRAM的FPGA中辐射引起的多位翻转的影响
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:通过利用照射暴露来提高基于SRAM的真实随机数发生器的性能
机译:基于Xilinx SRAM的FPGA的快速单事件翻转仿真的故障注入方法和基础设施