机译:自动测试设备中辐射EMI噪声引起的时序抖动的分析与测量
Automatic test equipment (ATE); Daughter board design; Jitter measurement; Jitter modeling; Testhead board;
机译:完美的时序:利用抖动和相位噪声测量进行时钟划分
机译:估算EMI引起的振荡器/时钟信号的相位噪声和抖动
机译:通过板载和片内噪声测量进行Emi分析的电源噪声建模的实验验证
机译:基于智能电网设备的辐射EMI噪声建模与特征分析
机译:电子振荡器中的时序抖动和相位噪声。
机译:使用基于加速度传感器的抖动测量来模拟和测试光学卫星上的微振动
机译:数字电路中EmI引起的定时抖动的简单模型,其统计分布及其对电路性能的影响
机译:用于测试,测量诊断设备(TmDE)的测试设备(BITE)中的自动测试和先进技术的先进技术