机译:高k电介质Jahn-Teller效应或氧空位中Vt不稳定性的起因
Jahn-Teller effect; electron traps; hafnium compounds; high-k dielectric thin films; tunnelling; vacancies (crystal); Jahn-Teller effect; high-k dielectrics; monoclinic hafnia; oxygen vacancies; positive bias temperature instability; trapping process; HfSiON; high-;
机译:氧空位和Jahn-Teller优良子在外延钙钛矿SRMNO_3超薄膜中的相关性:介电光谱研究
机译:重离子辐照后基于HfO_2的高k栅极电介质堆叠中的电荷俘获效应:氧空位的作用
机译:Hf基高k电介质中氧空位与镧的相互作用:从头算研究
机译:高k电介质中Vt不稳定性的物理起因和工艺优化
机译:高k电介质氧化锌薄膜晶体管的电不稳定性和界面电荷的研究。
机译:单层MoS2和HfO2高介电常数MOS电容器中界面状态的影响和起源
机译:HfO $ _2 $中的负氧空位为高k堆中的电荷陷阱