机译:不同热循环加载速率下包装焊点的可靠性评估
Power module; WLCSP; creep; finite element; power module; wafer-level chip-scale packages (WLCSP);
机译:功率和加速热循环条件下相同形状系数的塑料和陶瓷球栅阵列封装焊点可靠性的比较研究
机译:IMC生长反应及其对3D芯片堆叠封装焊点热循环可靠性的影响
机译:受热循环影响的边缘和角接合无铅芯片级封装组件的板级焊点可靠性
机译:BGA封装焊点可靠性评估的快速加速热循环(HATC)测试
机译:结合热循环和振动载荷条件下的塑料球栅阵列(PBGA)焊点可靠性评估
机译:随机空隙的产生以及热冲击载荷对发光二极管倒装芯片焊点机械可靠性的影响
机译:热循环下预载焊点的可靠性评估