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机译:LDD深度变化对SONOS NAND闪存设备性能特性的影响
Nanoscale Devices, VLSI Circuit and System Design Laboratory, Discipline of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Indore, Indore, India;
Nanoscale Devices, VLSI Circuit and System Design Laboratory, Discipline of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Indore, Indore, India;
SONOS devices; Performance evaluation; Logic gates; Doping; Junctions; Reliability; Substrates;
机译:常开的SONOS NOR闪存设备中LDD变化对漏极干扰的调查及其影响
机译:所存储电荷的电荷扩散对SONOS NAND闪存设备中保留特性的影响
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