机译:紧凑的测试仪,缺陷覆盖率高
机译:延迟缺陷覆盖率的多模式检测卡在测试集
机译:针对未建模缺陷的紧凑型卡入式测试集的生成
机译:在比较功能故障覆盖率和缺陷覆盖率以进行内存测试时
机译:生成具有高缺陷覆盖率的紧凑型测试仪
机译:一种新的ATPG算法,可生成紧凑的测试集,以检测VLSI电路中的静态和动态缺陷。
机译:收集和使用可靠的疫苗接种覆盖率调查估计数:会议上分享总结和建议会议总结和建议是从推出更新的世卫组织疫苗接种覆盖率群集调查参考手册并围绕疫苗接种覆盖率调查制定运营研究议程中获得的 2017年4月18-21日
机译:生成具有高缺陷覆盖率的紧凑型测试仪
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。