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Random-Pattern Coverage Enhancement and Diagnosis for LSSD Logic Self-Test

机译:LSSD逻辑自测的随机模式覆盖率增强和诊断

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摘要

Embedded linear feedback shift registers can be used for logic component self-test. The issue of test coverage is addressed by circuit modification, where necessary, of random-pattern-resistant fault nodes. Also given is a procedure that supports net-level diagnosis for structured logic in the presence of random test-pattern generation and signature analysis.
机译:嵌入式线性反馈移位寄存器可用于逻辑组件自检。通过在必要时修改抗随机模式的故障节点的电路来解决测试覆盖率问题。还给出了一种在存在随机测试模式生成和签名分析的情况下支持对结构化逻辑进行网络级诊断的过程。

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