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Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International

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召开地：Washington, DC
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1.Circular BIST with partial scan

机译：带有部分扫描的圆形BIST
- 作者：Pradhan M.M.;OBrien E.J.;Lam S.L.;Beausang J.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
- logic testing;
- partial scan;
- built-in self test;
- random test;
- sequential logic circuits;
- fault coverage;
- deterministic tests;
- circuit under test;
- circular path;
- partial scan chain;
- CAD;
- heuristics;
- flip-flops;
- automatic testing;
- fault location;
- flip-;
2.D/sup 3/FS: a demand driven deductive fault simulator

机译：D / sup 3 / FS：需求驱动的演绎故障模拟器
- 作者：Smith;S.P.;Mercer;M.R.;Underwood;B.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
3.Design for testability of a 32-bit microprocessor-the TX1

机译：可测试32位微处理器TX1的设计
- 作者：Nozuyama Y.;Nishimura A.;Iwamura J.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
4.Detecting bridging faults with stuck-at test sets

机译：使用固定的测试仪检测桥接故障
- 作者：Millman S.D.;McCluskey E.J.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
- automatic testing;
- logic testing;
- bridging faults;
- stuck-at test sets;
- fault simulation;
- test generation;
- feedback faults;
- test vectors;
- toggling;
- computer time;
- automatic testing;
- fault location;
- logic testing;
5.Emulative testing at the bus speed limit

机译：总线速度极限下的模拟测试
- 作者：Arnett D.B.;Bhaskar K.S.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
6.Fault detection effectiveness of weighted random patterns

机译：加权随机模式的故障检测有效性
- 作者：Waicukauski J.A.;Lindbloom E.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
7.On the testing of multiplexers

机译：关于多路复用器的测试
- 作者：Makar S.R.;McCluskey E.J.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
8.Testability features of a 32 kbps ADPCM transcoder

机译：32 kbps ADPCM转码器的可测试性功能
- 作者：Bonet L.A.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
9.Using scan technology for debug and diagnostics in a workstation environment

机译：在工作站环境中使用扫描技术进行调试和诊断
- 作者：Dervisoglu;B.I.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
10.An algorithmic branch and bound method for PLA test pattern generation

机译：PLA测试图生成的算法分支定界方法
- 作者：Robinson;M.;Rajski;J.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
11.Concurrent control of multiple BIT structures

机译：并发控制多个BIT结构
- 作者：Breuer;M.A.;Gupta;R.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
12.Continuous signature monitoring: efficient concurrent-detection of processor control errors

机译：连续签名监视：有效并发检测处理器控制错误
- 作者：Wilken;K.;Shen;J.P.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
13.Expert system for the functional test program generation of digital electronic circuit boards

机译：专家系统，用于生成数字电子电路板的功能测试程序
- 作者：Lea;S.M.;Brown;N.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
14.A test and maintenance controller for a module containing testable chips

机译：用于包含可测试芯片的模块的测试和维护控制器
- 作者：Breuer;M.A.;Lien;J.-C.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
15.On the detection of delay faults

机译：关于延迟故障的检测
- 作者：Pramanick;A.K.;Reddy;S.M.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
16.Predicting and obtaining high final test yields

机译：预测并获得较高的最终测试合格率
- 作者：Balzer R.J.;Larsen G.A.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
17.Testing and diagnosis of interconnects using boundary scan architecture

机译：使用边界扫描架构测试和诊断互连
- 作者：Hassan;A.;Rajski;J.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
18.An algorithmic branch and bound method for PLA test pattern generation

机译：PLA测试图生成的算法分支定界方法
- 作者：Robinson;M.;Rajski;J.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
19.Concurrent control of multiple BIT structures

机译：并发控制多个BIT结构
- 作者：Breuer M.A.;Gupta R.;Lien J.-C.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
20.Continuous signature monitoring: efficient concurrent-detection of processor control errors

机译：连续签名监视：有效并发检测处理器控制错误
- 作者：Wilken;K.;Shen;J.P.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
21.On the detection of delay faults

机译：关于延迟故障的检测
- 作者：Pramanick A.K.;Reddy S.M.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
22.Testing and diagnosis of interconnects using boundary scan architecture

机译：使用边界扫描架构测试和诊断互连
- 作者：Hassan;A.;Rajski;J.;Agarwal;V.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
23.A new framework for designing and analyzing BIST techniques: computation of exact aliasing probability

机译：设计和分析BIST技术的新框架：精确混叠概率的计算
- 作者：Gupta;S.K.;Pradhan;D.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
24.A new framework for designing and analyzing BIST techniques: computation of exact aliasing probability

机译：设计和分析BIST技术的新框架：精确混叠概率的计算
- 作者：Gupta;S.K.;Pradhan;D.K.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
25.RTRAM: reconfigurable and testable multi-bit RAM design

机译：RTRAM：可重配置和可测试的多位RAM设计
- 作者：Pradhan;D.K.;Kamath;N.R.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
26.A test and maintenance controller for a module containing testable chips

机译：用于包含可测试芯片的模块的测试和维护控制器
- 作者：Breuer;M.A.;Lien;J.-C.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
27.Electron beam tester integrated into a VLSI tester

机译：集成到VLSI测试仪中的电子束测试仪
- 作者：Niijima;H.;Tokunaga;Y.;Koshizuka;S.;Yakuwa;K.;Fazekas;P.;Sturm;M.;Feuerbaum;H.-P.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
28.Elimination of incoming test based upon in-process failure and repair costs

机译：根据过程中的故障和维修成本消除输入测试
- 作者：Ballew;W.D.;Streb;L.M.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
29.Key technologies for 500-MHz VLSI system ULTIMATE

机译：500 MHz VLSI系统ULTIMATE的关键技术
- 作者：Tamama;T.;Narumi;N.;Otsuji;T.-i.;Suzuki;M.;Sudo;T.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
30.Predicting and obtaining high final test yields

机译：预测并获得较高的最终测试合格率
- 作者：Balzer;R.J.;Larsen;G.A.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
31.RTRAM: reconfigurable and testable multi-bit RAM design

机译：RTRAM：可重配置和可测试的多位RAM设计
- 作者：Pradhan D.K.;Kamath N.R.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
32.Very high density probing

机译：超高密度探测
- 作者：Barsotti;C.;Tremaine;S.;Bonham;M.
- 会议名称：《Test Conference, 1988. Proceedings. New Frontiers in Testing, International》 | 1988年
- tape automated bonding;
- internal probing;
- lead bonding;
- high density probing;
- wafer level;
- probe card technology;
- speeds;
- bumped pads;
- multidie probing;
- pitch;
- throughput;
- integrated circuit testing;
- lead bonding;
- packaging;
- probes;
- VLSI;