机译:使用InGaAsP壁架结构的太赫兹GaAsSb / InP DHBT中的外在基础表面钝化
Microwave Devices and Integrated Circuits Department, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China;
GaAsSb; InP; heterojunction bipolar transistors (HBTs); ledge structure; simulation; surface passivation;
机译:使用InGaAsP壁架结构的高速“ II型” GaAsSb / InP DHBT中的外在基础表面钝化
机译:使用InGaAsP壁架结构的高速“Ⅱ型” GaAsSb / InP DHBT中的外在基底表面钝化
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