机译:通道层厚度对喷墨印刷In-Ga-Zn氧化物薄膜晶体管电性能的影响
School of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore;
Film thickness; In-Ga-Zn oxide (IGZO); inkjet printing; thin-film transistors (TFTs);
机译:半导体层厚度对交错n沟道和p沟道有机薄膜晶体管电性能的影响
机译:基于喷墨印刷自信双层异质结频道的高性能金属氧化物薄膜晶体管
机译:沟道层厚度对铟锌氧化物薄膜晶体管电性能的影响
机译:具有喷墨印刷的In-Ga-Zn氧化物沟道层和ITO / IZO源/漏触点的氧化物薄膜晶体管
机译:高k电介质氧化锌薄膜晶体管的电不稳定性和界面电荷的研究。
机译:不同金属覆盖层对P沟道SnO薄膜晶体管电性能和稳定性的影响
机译:通道层厚度对喷墨印刷In-Ga-Zn氧化物薄膜晶体管电性能的影响
机译:超柔性,不可见的薄膜晶体管,由非晶金属氧化物/聚合物沟道层混合物制成。