机译:十亿分之一nand闪存阵列中的串电流:紧凑模型研究
Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano, 20133, Italy;
Compact modeling; Flash memories; semiconductor device modeling; semiconductor device reliability;
机译:3-D NAND闪存单元串中的晶界陷阱感应电流瞬变
机译:n和Flash电池阵列的尺度间介电介质的保留可靠性研究
机译:通过缩小多晶硅体厚度和3D NAND闪存的晶粒尺寸研究瞬态电流特性
机译:an仪NAND闪存阵列中随机电报噪声的循环模式和读取/烘烤条件相关性
机译:使用NAND闪存的硬件安全原语
机译:gsufsort:构造后缀阵列LCP阵列和BWTS for String Collections
机译:NAND闪存重离子辐射过程中电流尖峰现象的研究
机译:NaND闪存重离子辐照过程中电流尖峰现象的研究