机译:极端短通道闪存设备中具有长数据保留时间的改进的短通道特性
Nanoscale Devices, VLSI Circuit and System Design Laboratory, Discipline of Electrical Engineering, IIT Indore, Indore, India;
Junction boost leakage; lateral straggle; short-channel effect (SCE); silicon-oxide-nitride-oxide- silicon (SONOS).; silicon-oxide???nitride-oxide???silicon (SONOS);
机译:对RTS和反向缩放行为的极端短沟道效应:25 nm Nand闪存中的源漏注入效应
机译:考虑串扰和短通道效应的nand闪存单元器件的Vth漂移建模
机译:考虑串扰和短通道效应的nand闪存单元设备中的$ V_ {rm th} $位移建模
机译:一种新型浮栅工程技术,可改善闪存设备的数据保留能力
机译:短通道缓存中的泄漏功率激增。
机译:当减少源-检测器分离时短通道功能近红外光谱的回归会改善
机译:通过容忍早期保留损耗和过程变化,改善3D NAND闪存寿命