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机译:对RTS和反向缩放行为的极端短沟道效应:25 nm Nand闪存中的源漏注入效应
Micron Technology, Inc., Boise, USA;
nand Flash memory; random discrete dopant (RDD); random telegraph signal (RTS); short-channel effect (SCE); source–drain implantation (SDI); subthreshold swing; surface potential;
机译:25纳米NAND闪存中的单电池和多电池故障
机译:极端短通道闪存设备中具有长数据保留时间的改进的短通道特性
机译:源极/漏极结和单元形状对NAND闪存中随机电报噪声的影响
机译:N2退火对NAND闪存的P +源极/漏极离子注入的电学特性的改善
机译:使用大规模NAND闪存的固态数据存储电路和系统。
机译:CMOS兼容的铁电NAND闪存用于高密度低功耗和高速三维内存
机译:25nm NAND闪存中总电离剂量响应的统计分析