机译:NBTI相关的可变性对14纳米节点FinFET SRAM性能和静态功耗的影响:与时间零波动的相关性
Department of Electrical Engineering, IIT Bombay, Mumbai, India;
Department of Electrical Engineering, IIT Bombay, Mumbai, India;
Department of Electrical Engineering, IIT Bombay, Mumbai, India;
Department of Electrical Engineering, IIT Kanpur, Kanpur, India;
Department of Electrical Engineering, IIT Kanpur, Kanpur, India;
Department of Electrical Engineering, IIT Bombay, Mumbai, India;
Negative bias temperature instability; Thermal variables control; Degradation; Random access memory; Correlation; Stress; Data models;
机译:统计可变性和可靠性以及对14nm节点SOI FinFET技术的相应6T-SRAM单元设计的影响
机译:FinFET中的鳍形波动:与电可变性的关系以及对6-T SRAM噪声容限的影响
机译:14nm FinFET中的TID工艺,几何和偏置条件相关性分析以及对RF和SRAM性能的影响
机译:14nm节点SOI FinFET的统计可变性及其对相应6T-SRAM单元设计的影响
机译:采用高可变性先进CMOS技术的低功耗高性能SRAM设计
机译:中年女性的脑电图delta脑电功率和心率变异性之间的时变相关性:SWAN睡眠研究
机译:针对高性能,低功耗和稳健FinFET SRAM的表面方向的优化