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机译:热载流子对薄膜SOI / NMOSFET的栅极感应漏极泄漏(GIDL)电流的影响
机译:短沟道SOI MOSFET中栅极感应漏电流(GIDL)的增强及其在测量横向双极电流增益beta中的应用
机译:热载流子应力对部分耗尽SOI nMOSFET的薄栅氧化物的栅极感应浮体效应和漏极电流瞬变的影响
机译:具有隔离方案和掩埋氧化物厚度的薄膜SOI nMOSFET热载流子退化行为
机译:Soi Mosfet中栅极感应漏电流(gidl)的增强及其对Soi设备缩放的影响
机译:SOI设备的接口特性和热载流子效应
机译:异常栅极电流对氧化物薄膜晶体管电性能的影响
机译:使用GIDL电流技术分析薄膜常规和单口袋SOI MOSFET中的浮体效应