首页> 外文期刊>IEEE Electron Device Letters >A novel quad source/drain metal nanocrystal memory device for multibit-per-cell storage
【24h】

A novel quad source/drain metal nanocrystal memory device for multibit-per-cell storage

机译:一种用于每单元多位存储的新型四源/漏金属纳米晶体存储器件

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Based on the 2-bit-per-cell metal nanocrystal memories, a novel quad source/drain device capable of 4 bits per cell data storage is demonstrated. Along with the new device structure, a reliable parallel read scheme with low V/sub DS/ is also proposed and verified for 4-bit-per-cell operations. The proposed read scheme requires 1.125 read operations on average to read out the 4 bits stored in a cell, while minimizing the read disturb and interference between the different storage bits.
机译:基于每单元2位的金属纳米晶体存储器,展示了一种新型的四源极/漏极器件,该器件每单元可存储4位数据。除了新的器件结构外,还提出了一种具有低V / sub DS /的可靠并行读取方案,并已针对每单元4位操作进行了验证。所提出的读取方案平均需要1.125次读取操作才能读出存储在一个单元中的4位,同时将不同存储位之间的读取干扰和干扰降至最低。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号