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机译:皮秒时间分辨发射显微镜在低温多晶硅薄膜晶体管中进行热载流子分析
Mater. Sci. Dept., Nara Inst. of Sci. & Technol., Japan;
hot carriers; thin film transistors; silicon; elemental semiconductors; electron traps; semiconductor device testing; hot carrier degradation; low-temperature polysilicon thin film transistor; picosecond time-resolved emission microscopy; dynamic str;
机译:皮秒发射显微镜分析低温多晶硅TFT中的热载流子
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