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基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量系统及方法

摘要

本发明提供一种基于宽辐射谱的皮秒时间分辨冲击温度测量系统及方法,所述系统包括相互垂直的可见光探测通道和近红外探测通道,所述可见光探测通道、近红外探测通道均由多个分离的探测通道组成,其中,各可见光探测通道分别由依次排布的二向色镜、透镜和可见光探测器构成,透镜和可见光探测器之间设有多模光纤;各近红外探测通道分别由依次排布的反射镜、透镜和近红外探测器构成,透镜和可见光探测器之间设有多模光纤;各可见光探测通道、各近红外探测通道的辐射谱宽度均超过百纳米。所述测量方法包括步骤:(1)标定测量系统;(2)求解实际待测对象的真实冲击温度。本发明将探测系统的温度测量下限降低至3000K以下。

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法律信息

  • 法律状态公告日

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    法律状态

  • 2022-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K11/32 专利申请号:2021113736598 申请日:20211118

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