机译:通过改进的OCVD方法对SI外延层中多数和少数载流子寿命进行实验测量
Diode; Lifetime; Open Circuit Voltage Decay (OCVD); Profile; Recombination;
机译:瞬态模式下磁场下磁极太阳能电池在硅太阳能电池中有效寿命的实验测量
机译:瞬态磁场下开路电压衰减下硅太阳能电池中少数载流子有效寿命的实验测量
机译:HgCdTe光电探测器有效少数载流子寿命的光电方法实验确定
机译:基于OCVD技术的空间载流子寿命剖面测量新方法
机译:使用反向恢复瞬态方法测量纳米晶硅器件中少数载流子的寿命。
机译:用于非接触氧化过程表征和炉分析的少数载流子寿命测量
机译:瞬态模式下磁场下磁极太阳能电池在硅太阳能电池中有效寿命的实验测量
机译:少数载体寿命测量的光电压衰减(pVD)方法的数学分析