机译:标准CMOS工艺制造的Si雪崩光电探测器的等效电路模型
Dept. of Electr. & Electron. Eng., Yonsei Univ., Seoul;
CMOS integrated circuits; avalanche photodiodes; elemental semiconductors; equivalent circuits; frequency response; silicon; CMOS-compatible avalanche photodetectors; Si; Si avalanche photodetectors; avalanche delay; equivalent circuit model; parasitic effects; photodetection frequency responses; photogenerated carriers; standard CMOS process; Avalanche photodetector; CMOS; RF peaking;
机译:0.5标准CMOS工艺中单光子雪崩二极管的表征-第2部分:等效电路模型和盖革模式读数
机译:使用标准CMOS技术制造的硅雪崩光电探测器的区域相关光电探测频率响应特性
机译:保护环结构对采用标准CMOS技术制造的硅雪崩光电探测器性能的影响
机译:标准CMOS工艺制造的硅雪崩光电探测器的特性
机译:见光:采用标准CMOS技术制造的具有内部增益的光电检测器的设计和表征。
机译:使用标准BSI工艺制造的3.0μm三倍增益像素的90 dB以上场景内单曝光动态范围CMOS图像传感器
机译:通过标准CMOS工艺在蓝波长区域中制造的高速和高响应性雪崩光电二极管
机译:sOI / CmOs(si-On-Insulator / CmOs)电路在siO2涂层si衬底上的区域熔化 - 再结晶si薄膜中制造