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机译:沟道热电子对AlGaN / GaN HEMT中电流崩塌的影响
Samsung Advanced Institute of Technology, Samsung Electronics Co., Ltd., Yongin-si, Korea|c|;
Current collapse; dynamic ON-resistance; electron trap; field plate; hot electron; p-GaN gate high-electron-mobility transistor (HEMT);
机译:AlGaN / GaN / Si中的高沟道电导率,击穿场强和低电流塌陷
机译:使用AlGaN / GaN / AlGaN双异质结构抑制增强模式基于GaN的HEMT中的电流崩塌
机译:二维电子气体的捐赠表面陷阱和AlGaN / GaN Hemts的电流塌陷
机译:AlGaN / GaN Hemts的热电子诱导电流塌陷
机译:机械应力对AlGaN / GaN HEMT性能的影响:沟道电阻和栅极电流。
机译:二维电子气上的供体样表面陷阱以及AlGaN / GaN HEMT的电流崩塌
机译:栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由低频噪声和脉冲电测量证明,栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由脉冲I-V和低频噪声测量证明
机译:用于减少alGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEmT)中电流崩塌的表面钝化膜的比较