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Germanium-on-insulator Materials Have High Hole Mobility

机译:绝缘体上的锗材料具有高空穴迁移率

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摘要

As device designers look beyond 22 nm, it is becoming clear that we are simply running out of carrier mobility. Strain engineering has helped a lot By applying physical strain to the channel of a MOSFET, you can significantly increase the carrier mobility-enough at even 45 nm to make up for many of the other shortcomings of the device and end up with reasonable current. But many researchers now agree that, at some point, we will have to abandon silicon channels and move to a material with higher carrier mobility.
机译:随着设备设计师的眼光超过22 nm,很明显,我们已经远远超出了载波的移动性。通过向MOSFET的沟道施加物理应变,应变工程起到了很大的作用,您可以显着提高载流子迁移率,即使在45 nm处也足够,以弥补该器件的许多其他缺点,并获得合理的电流。但是许多研究人员现在同意,在某个时候,我们将不得不放弃硅通道,而转向载流子迁移率更高的材料。

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  • 来源
    《Electrical Design News》 |2009年第3期|16|共1页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 00:31:37

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