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机译:在测试长度约束下状态可观的FSM增加故障覆盖率的故障相关测试生成方法
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机译:在比较功能故障覆盖率和缺陷覆盖率以进行内存测试时
机译:用户定义故障的基于FSM的测试适用于增量和变异测试
机译:用于在测试长度约束下增加缺陷覆盖的状态可观察FSM的测试方法
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:目标故障检测次数的定义及其指导高缺陷覆盖率测试生成的有效性
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。