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一种基于特征值分解的模拟电路故障测试生成方法

摘要

本发明涉及一种基于特征值分解的模拟电路故障测试生成方法,本发明针对支持向量机在样本规模较大时会出现训练速度慢、算法复杂和效率低等问题,提出采用基于广义特征值分解的分类方法设计测试信号,并运用主成分分析技术进行响应信号压缩。本发明采用脉冲响应空间描述离散化的模拟电路,运用主成分分析技术进行脉冲响应空间压缩,并通过基于广义特征值分解的分类方法生成测试激励信号,实现模拟电路故障诊断,具有较高的诊断精度和效率。

著录项

  • 公开/公告号CN113884864A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军海军工程大学;

    申请/专利号CN202111081007.7

  • 申请日2021-09-15

  • 分类号G01R31/316(20060101);

  • 代理机构42250 武汉泰山北斗专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人程千慧

  • 地址 430030 湖北省武汉市硚口区解放大道717号

  • 入库时间 2023-06-19 13:32:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/316 专利申请号:2021110810077 申请日:20210915

    实质审查的生效

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