机译:为PLA和单调组合电路生成最小测试集的复杂性
机译:COMPACTEST:一种为组合电路生成紧凑测试集的方法
机译:更正了“用于EXOR产品积和电路的自测试的最小通用测试集”
机译:组合电路中门延迟故障的线性测试方法的产生方法
机译:用于五个输出的组合电路的局部穷举测试的最小测试集
机译:一种新的ATPG算法,可生成紧凑的测试集,以检测VLSI电路中的静态和动态缺陷。
机译:游泳系统中局部模式生成电路的运动神经元模型的测试
机译:用于五个输出的组合电路的局部穷举测试的最小测试集
机译:组合逻辑电路的最小故障测试时序设计和可测试实现