机译:重新配置了扫描林,以降低测试应用程序成本,降低测试数据量和降低测试功耗
Scan forest; test application cost; test data volume; test power.;
机译:降低逻辑电路的测试成本:减少测试数据量和测试应用时间
机译:压缩/扫描协同设计,可减少测试数据量,减少扫描功率损耗和测试应用时间
机译:选择性扫描切片重复,可同时降低测试功耗和测试数据量
机译:依次捕获扫描以减少测试数据量,测试应用时间和测试功率
机译:用于基于扫描的统计时序缺陷测试的成本降低和测试质量控制。
机译:将序列数据的基于族的关联测试的功能与GAW18模拟数据中的应用程序进行比较
机译:具有非扫描测试能力和测试应用程序成本的扫描测试的经济高效扫描架构
机译:XmD-7火控系统预B-58测试的数据减少编程第1卷,共3个功能描述数据减少系统