机译:使用混合冗余分析技术的SRAM自修复(MMBISR)内置的新型修改内存
School of Engineering & Technology Poornima University India;
built-in self test; embedded systems; field programmable gate arrays; hardware description languages; reconfigurable architectures; redundancy; SRAM chips;
机译:具有BIST提高可靠性的嵌入式存储器的内置自修复技术
机译:增强的内置自修复技术,可提高嵌入式存储器的制造良率和可靠性
机译:用混合VLSI技术设计新型SRAM电池,用于嵌入回忆中的漏电低,高速
机译:使用ECC和内置的自我修复技术提高嵌入式内存的可靠性
机译:OpenRam记忆的内置自我修复
机译:混合固态自旋寄存器中内置内存的量子克隆
机译:混合存储多维数据集的内置自修复研究