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机译:卢瑟福反向散射和正向后坐力光谱法研究聚酰亚胺薄膜的表面改性
Department of Materials Science and Engineering, Cornell University, Ithaca, New York 14853;
机译:卢瑟福反向散射光谱法和弹性反冲检测分析法研究等离子体聚合物和纳米复合聚合物薄膜
机译:薄SiO_2 / Si_3N_4 / SiO_2叠层的分析:低能重离子弹性反冲检测,高分辨率卢瑟福背散射和二次离子质谱的比较研究
机译:由Ag-Te薄膜对形成的Ag2Te薄膜的透射电子显微镜和卢瑟福背散射光谱研究
机译:离子注入的比较研究引起光谱椭圆形测定法和曲赫福硅硅的异常表面损伤 - 勘探光谱法
机译:对用作多芯片模块介电层的聚酰亚胺薄膜的蚀刻和表面改性特性的研究。
机译:卢瑟福反向散射光谱显示金属-有机骨架中合成后接头交换的均匀分布
机译:使用循环伏安法和卢瑟福背散射光谱法表征三(5-氨基-1,10-菲咯啉)钌(II / III)聚合物薄膜
机译:使用组合弹性反冲检测和卢瑟福/增强卢瑟福背散射光谱法进行材料分析