机译:InP核的低温合成对界面缺陷对InP / ZnS量子点光学性能的影响
Korea Inst Sci & Technol, Sensor Syst Res Ctr, Seoul 02792, South Korea;
Korea Inst Ind Technol, Korea Inst Rare Met, Incheon 21999, South Korea;
Korea Inst Sci & Technol, Sensor Syst Res Ctr, Seoul 02792, South Korea;
Korea Inst Ind Technol, Korea Inst Rare Met, Incheon 21999, South Korea;
Korea Inst Ind Technol, Korea Inst Rare Met, Incheon 21999, South Korea;
Korea Inst Ind Technol, Korea Inst Rare Met, Incheon 21999, South Korea|Univ Sci & Technol, Crit Mat & Semicond Packaging Engn, Daejeon 34113, South Korea;
Quantum dots; QDs; InP; InP/ZnS; Surface defects;
机译:温度和点尺寸对胶体InP / ZnS核-壳量子点光谱性质的影响
机译:INP / ZnS核心壳量子点的非线性光学性能
机译:乙酸盐离子对INP / ZnSES核心/壳量子点光学性质的影响研究
机译:微环境对基于INP / ZNS和CDSE / ZnS的量子点光学性质的影响
机译:脱壳温度和时间对CuInS2 / ZnS量子点光学和结构性质的影响。
机译:INP @ ZnS核心壳胶体量子点的非线性光学表征使用532nm10 ns脉冲
机译:INP @ ZnS核心壳胶体量子点的非线性光学表征使用532nm,10 ns脉冲
机译:异质外延Inp电池结构中间隙Zn缺陷的氢钝化及对器件特性的影响