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Hole-blocking titanium-oxide/silicon heterojunction and its application to photovoltaics

机译:空穴阻挡二氧化钛/硅异质结及其在光伏中的应用

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摘要

In contrast to the numerous reports on narrow-bandgap heterojunctions on silicon, such as strained Si1-xGex on silicon, there have been very few accounts of wide-bandgap semiconducting heterojunctions on silicon. Here, we present a wide-bandgap heterojunction—between titanium oxide and crystalline silicon—where the titanium oxide is deposited via a metal-organic chemical vapor deposition process at substrate temperatures of only 80–100?°C. The deposited films are conformal and smooth at the nanometer scale. Electrically, the TiO2/Si heterojunction prevents transport of holes while allowing transport of electrons. This selective carrier blocking is used to demonstrate a low-temperature processed silicon solar cell.
机译:与硅上窄带隙异质结的大量报道相反,例如硅上的应变Si 1-x Ge x 的报道,关于宽带隙的解释很少硅上的半导体异质结。在这里,我们提出了一种宽带隙异质结,介于氧化钛和晶体硅之间,其中氧化钛是通过金属有机化学气相沉积工艺在仅80–100?C的基板温度下沉积的。沉积的膜在纳米级是保形的和光滑的。在电学上,TiO 2 / Si异质结在允许电子传输的同时防止了空穴的传输。该选择性载流子阻挡被用来证明低温处理的硅太阳能电池。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2013年第20期|203901.1-203901.4|共4页
  • 作者单位

    Princeton Institute for the Science and Technology of Materials (PRISM), Princeton University, New Jersey 08544, USA|c|;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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