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Generation and detection of terahertz pulses using post-process bonding of low-temperature-grown GaAs and AlGaAs

机译:使用低温生长的GaAs和AlGaAs的后处理键产生和检测太赫兹脉冲

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摘要

We present an electro-optical method to measure very high frequency characteristics of planar electronic devices. This method allows one to generate and detect subpicosecond electrical pulses on a coplanar stripline using photoconduction and electroabsorption sampling in transferred low-temperature-grown epitaxial layers. The epitaxial lifted-off films are directly van der Waals bonded on the transmission line under test. Good switching efficiency and short electrical rise time (<490 fs) are measured. A bandwidth of 2.5 THz with 60 dB of dynamic range is obtained. This confers to the technique a large field of applications in ultrahigh-speed electronic measurements.
机译:我们提出一种电光方法来测量平面电子设备的非常高的频率特性。该方法允许在转移的低温生长的外延层中使用光电导和电吸收采样在共面带状线上产生和检测亚皮秒级电脉冲。外延剥离的薄膜直接通过范德华粘合在测试的传输线上。测量出良好的开关效率和较短的电气上升时间(<490 fs)。获得2.5 THz的带宽和60 dB的动态范围。这使该技术在超高速电子测量中具有广阔的应用领域。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2004年第12期|p.2049-2051|共3页
  • 作者单位

    Institut d'Electronique de Microelectronique et de Nanotechnologie, U.M.R. C.N.R.S. 8520, Avenue Poincare Boite Postale 69, F-59652 Villeneuve d'Ascq Cedex, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:23:14

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