一种GaAs和AlGaAs异质结太赫兹探测器

摘要

本专利公开了一种GaAs和AlGaAs异质结太赫兹探测器，其结构特点自下而上分别是GaAs衬底、GaAs缓冲层、Al_0.3Ga_0.7As势垒层、掺杂硅的Al_0.3Ga_0.7As势垒层和掺杂硅的GaAs势垒层，源极和漏极都位于GaAs缓冲层上并且位于各势垒层两端，与Al_0.3Ga_0.7As势垒层与GaAs缓冲层之间的二维电子气沟道形成欧姆接触，栅极位于掺杂硅的GaAs势垒层上方并与掺杂硅的GaAs势垒层形成肖特基接触。其主要原理是GaAs和AlGaAs形成的二维电子气具有非常高的电子迁移率，并可与THz波产生等离子共振，增强了THz波的吸收，提高了THz波的光电转换效率。同时，可通过栅电压来调控太赫兹的吸收和光电转化，实现高稳定，高灵敏，高速的室温太赫兹探测和成像。