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机译:基于深度耗尽物理学的扫描电容显微镜载流子轮廓提取分析模型
机译:使用扫描抗扩散显微镜和扫描电容显微镜,在高真空中分析载体分析
机译:使用校准的扫描扩展电阻显微镜和扫描电容显微镜对太赫兹量子级联激光器中的载流子进行二维轮廓分析
机译:原子力显微镜和扫描电容显微镜的独特应用-穿过厚绝缘层的二维载流子轮廓
机译:使用扫描电容显微镜(SCM)和扫描扩展电阻显微镜(SSRM)对基于InP的结构进行2D载流分析
机译:通过扫描电容显微镜对二维掺杂物进行分析。
机译:从欧姆接触纳米线器件中的扫描光电流曲线中提取少数载流子衰变长度的新解析公式。
机译:埋入异质结构多量子阱激光器中载流子的二维轮廓分析:校准扫描扩展电阻显微镜和扫描电容显微镜