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张兆祥; 赵兴钰;
北京大学电子学系;
扫描力显微镜; 表面电容; 测量; 半导体器件;
机译:使用原子力显微镜/开尔文探针力显微镜/扫描电容力显微镜观察施加反向偏压下的碳化硅肖特基势垒二极管
机译:用扫描探针显微镜表征铜后CMP表面:第二部分:用扫描开尔文探针力显微镜测量表面电势
机译:使用耗散力调制方法研制扫描电容力显微镜显微镜
机译:通过使用功能化提示通过扫描力显微镜通过扫描力显微镜对表面处理的聚合物中的功能群分布成像
机译:尖端扫描电容显微镜(SSCM):表面表征和测量的特殊技术
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机译:界面陷阱和表面迁移率下降对扫描电容显微镜测量的影响
机译:使用光学干涉测量的扫描力显微镜
机译:金属悬臂梁,原子间力显微镜和扫描静电电容复合装置,以及原子间力显微镜,扫描静电显微镜和扫描隧道微孔复合装置
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机译:在扫描热显微镜中测量表面热性能的方法和用于测量热显微镜的表面扫描热性能的装置
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