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Direct electrical measurement of an individual α-Fe_2O_3 nanobridge field effect transistor formed via one-step thermal oxidation

机译:通过一步热氧化形成的单个α-Fe_2O_3纳米桥场效应晶体管的直接电测量

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摘要

An α-Fe_2O_3 nanobridge (NB) was laterally grown via the one-step thermal oxidation of 150 nm Fe film at 350 ℃ for 1 h in air atmosphere to form a NB field effect transistor (FET). The diameter of the as-grown NB was 7 nm, with a length of 170 nm. The electrical properties of the individual α-Fe_2O_3 NB were directly measured by microprobing the NB FET. The results show that the NB demonstrated N-type semiconductive behavior with a conductivity of 1.67 S/cm.
机译:通过在空气中于350℃下150 nm Fe薄膜的一步热氧化在1个小时的横向生长a-Fe_2O_3纳米桥(NB),以形成NB场效应晶体管(FET)。生长的NB的直径为7 nm,长度为170 nm。通过微探测NB FET直接测量单个α-Fe_2O_3NB的电性能。结果表明,NB表现出N型半导体行为,导电率为1.67 S / cm。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters》 |2008年第8期|229-231|共3页
  • 作者

    Li-Chieh Hsu; Yuan-Yao Li;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:20:44

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