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机译:石墨烯场效应晶体管中沟道迁移率和器件性能对栅堆叠的影响的仿真研究
Institute of Microelectronics, Tsinghua University, Beijing 100084, China;
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机译:石墨烯场效应晶体管中沟道迁移率和器件性能对栅堆叠的影响的仿真研究
机译:使用通道掺杂工程的超缩放双栅极石墨烯纳米隧道场效应晶体管的性能提高:量子仿真研究
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机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:阶梯通道厚度双栅隧道场效应晶体管的仿真研究
机译:高性能中的迁移率提取和量子电容影响 石墨烯场效应晶体管器件