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Source and Drain Structures for Suppressing Ambipolar Characteristics of Graphene Field-Effect Transistors

机译:抑制石墨烯场效应晶体管双极特性的源极和漏极结构

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摘要

Metal-graphene contact in graphene field-effect transistors (GFETs) causes ambipolar characteristics unsuitable for complementary logic circuits. We devised source and drain structures for suppressing these ambipolar characteristics in GFETs. The calculation results demonstrate the effectiveness of the devised structures. Similar structures could be applied to FETs with channels made by narrow-gap materials.
机译:石墨烯场效应晶体管(GFET)中的金属-石墨烯接触会导致不适合互补逻辑电路的双极性特性。我们设计了用于抑制GFET中这些双极性特性的源极和漏极结构。计算结果证明了所设计结构的有效性。类似的结构可以应用于具有由窄间隙材料制成的沟道的FET。

著录项

  • 来源
    《Applied physics express》 |2009年第6期|31-33|共3页
  • 作者

    Eiichi Sano; Taiichi Otsuji;

  • 作者单位

    Research Center for Integrated Quantum Electronics, Hokkaido University, Sapporo 060-8628, Japan CREST, Japan Science and Technology Agency, Tokyo 107-0075, Japan;

    Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan CREST, Japan Science and Technology Agency, Tokyo 107-0075, Japan;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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