机译:陷阱能级和缺陷不均匀性对SiC晶体和辐射探测器中载流子传输的影响
Semiconductor Physics Department and Institute of Materials Science and Applied Research Vilnius University, SaulEtekio al. 9, bldg. 3, 2040 Vilnius, Lithuania;
charge carriers: generation; recombination; lifetime; and trapping; other crystalline inorganic semiconductors; semiconductor-device characterization; design; and modeling;
机译:受缺陷陷阱和不均匀性影响的SiC晶体和辐射探测器中的载流子传输
机译:GaN单晶和辐射探测器中的载流子传输和俘获以及中子辐照的影响
机译:极端辐射通量后SiC探测器结构中载流子的传输
机译:高电阻率4H SiC块状晶体和辐射探测器外延层的表面和缺陷相关性研究
机译:半导体中缺陷陷阱分布中的少数载流子动力学:在三角硒单晶中的应用。
机译:纳米晶体太阳能电池中载流子迁移俘获和重组的定量模型
机译:在低温下光照下,标称纯单晶Gap,Gaas和4H-siC半导体中自由载流子的去除和回缩
机译:GaN alGaN和注入siC中的缺陷及相关载流子陷阱;最终的评论。 2004年9月15日至2007年9月14日