机译:使用Si_2H_6和Ge_2H_6低温RPCVD外延生长Si_(1-x)Ge_x
机译:超薄低温Sio.75Geo.25 / Si缓冲层,用于通过RPCVD在Si(100)上生长高质量的Ge外延层
机译:通过RPCVD在Si(100)上生长高质量Ge外延层的过程中,LT至HT的超低温度升温速率
机译:用Si2H6和Ge2H6低温RPCVD外延生长Si1-xGex和Ge
机译:低温外延生长的缺陷表征和材料质量评估。
机译:使用单步HiPIMS工艺将Cu(001)薄膜外延生长到Si(001)上
机译:高质量Si基Ge材料的外延生长和Ge MOS结构的界面特性
机译:通过脉冲激光烧蚀在中等温度下原位生长高质量外延YBa(sub 2)Cu(sub 3)O(sub 7-x)薄膜。