机译:连续梁透射电子显微镜中的Attosecond Metrology
机译:二次信号成像(SSI)电子断层扫描(SSI-ET):透射电子显微镜中尺度标本的新三维度量
机译:使用聚焦离子束和平面透射电子显微镜作为参考计量学的先进半导体特征的线宽粗糙度
机译:SEM(扫描电子显微镜)中的STEM(扫描透射电子显微镜),用于故障分析和计量
机译:在扫描透射电子显微镜中用电子能量损失光谱法表征多相聚合物形态。
机译:透射电子显微镜中碳氢化合物污染引起的原位室温电子束驱动石墨烯的生长
机译:连续梁透射电子显微镜中的Attosecond Metrology