利用近红外漫反射光谱技术进行苹果糖度无损检测的研究

摘要

利用近红外漫反射光谱技术,研究了1300～2100 nm波长范围内无损检测苹果糖度的可行性.采集了每个苹果去皮前、后最大横径上四个点的近红外平均光谱和整个苹果的糖度值.采用主成分回归(PCR)和偏最小二乘法(PLS)对试验数据进行了多元统计分析.结果表明:在1300～2100 nm波长范围内无损检测(即带皮检测)苹果的糖度是可靠的,并且PLS模型的性能更优于PCR模型.本文还对用单测点光谱和多测点平均光谱建立的糖度模型进行了研究,结果表明用单测点光谱预测整个苹果的糖度,其精度明显低于多测点平均光谱.这说明用苹果上一个点的光谱来预测整个苹果的糖度,其精度是不够的.因此,在利用近红外漫反射光谱在线检测苹果糖度时,作者建议采用多个光纤探头来采集多点光谱,然后取其平均值预测.