二极管Ⅰ-Ⅴ曲线和结参数测试系统的设计和实现

摘要

新时期我国电子工业发展水平的提升及速度的加快，对性能可靠的二极管依赖性较强。实践中为了优化二极管工作性能，保持其应用过程中良好的功能特性，则需要在电流-电压（I-V）法作用下对二极管进行检测。基于此，本文就二极管I-V曲线和结参数测试系统的设计和实现展开论述。