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蒋秀丽;
上海电力学院数理系,上海,201300;
镀膜长周期光纤光栅; 传感器; 薄膜厚度;
机译:用光纤探头测量曲面上的薄膜厚度
机译:使用光纤探头动态测量半分子厚度的液体润滑薄膜的粘弹性
机译:使用光纤型低相干干涉法同时测量SiO_2 / Si晶片上的衬底温度和薄膜厚度
机译:薄膜厚度绝对测量通过差分光纤白光干扰测量法
机译:用于测量薄膜厚度,表面粗糙度和表面图形的三束剪切干涉仪。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:使用白光扫描干涉测量法与反射测量法相结合的透明薄膜层的厚度和表面测量
机译:用于薄膜厚度测量的水溶性尼古丁水溶液的密度和表面张力测量
机译:光学记录介质,相同厚度的薄膜厚度测量方法,薄膜厚度控制方法,制造方法,薄膜厚度测量装置和薄膜厚度控制器
机译:薄膜厚度测量装置,包括该薄膜厚度测量系统的系统以及薄膜厚度测量方法
机译:光学薄膜厚度的测量方法,光学薄膜厚度的测量系统以及光学薄膜厚度的测量程序
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