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锡镀层锡须生长的快速评估计算方法

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摘要

通过锡须指数的计算及对高低温循环实验条件下锡须生长情况的观察与测量,建立了锡须指数与锡须生长长度之间的关系,使得可以在高低温实验结果出来之前就能借助锡须指数来评估锡须生长的风险,从而使实时评估控制镀锡电镀生产线变为可能.

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来源
《电镀与精饰》 |2010年第4期|5-7,10|共4页
作者
叶德洪; 王津生; 纪翊; 傅细如;
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作者单位

飞思卡尔半导体(中国)有限公司,天津300381;

飞思卡尔半导体(中国)有限公司,天津300381;

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飞思卡尔半导体(中国)有限公司,天津300381;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TQ153.13;
关键词
纯锡电镀; 锡须; 锡须指数; 物相分析;

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