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刘英麟; 刘春光; 王广安; 陆子凤; 任红杰; 刘益春;
东北师范大学理论物理所,长春,130024;
长春市实验中学;
电荷耦合器件CCD; 衍射信号; 可擦除光存储;
机译:闪存中的擦除擦除-第一部分:基本实验和统计特性
机译:CCD探测器用于SR光束的高时间分辨率实验
机译:丙酸的高压结构研究及CCD探测器在高压单晶X射线衍射中的应用
机译:使用PICOSecond切换时间的光子积分器的可加载和可擦除光存储器件的演示
机译:Rauschenberg,Twombly和Cage:在三位艺术家作品中擦除擦除的未经传统用途探索
机译:内存擦除实验表明CaMKII在内存存储中的关键作用
机译:相变循环,用于由超短激光脉冲驱动的可擦除光存储
机译:用于双光子3-D光存储器件的新型读/写/擦除材料
机译:利用背向偏置制造SOI基质上形成的闪光块的闪光存储器的结构和方法,其擦除方法及其闪光存储器
机译:通过将擦除脉冲应用于全存储块以及将擦除脉冲应用于部分存储块,非易失性半导体存储器件可减少擦除时间
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