检测片状电阻器镀层厚度的金相制样法

摘要

片状电阻器是由陶瓷材料和金属镀层构成 ,因不同型号的片状电阻器仅 2mm× 0 .5mm和 2mm× 1mm ,镀层仅 0 .5mm× 0 .5mm ,要从侧面测试片状电阻器镀层的厚度 ,对包埋样品的粘合剂的粘合性能 ,粘合剂的硬度与被测物的硬度是否一致提出了较高要求。经大量实验 ,用快干腻子固定和镶嵌片状电阻器试样 。