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沈朝晖; 王晶; 马延钧;
北京轻工业学院;
迈克尔逊干涉仪; 光程; 薄膜厚度; 折射率; 等厚干涉; 反射率;
机译:具有双轴对称性的薄膜的折射率测量。 2.使用透明波长范围内的偏振透射光谱确定膜的厚度和折射率
机译:多光束干涉法测量DPPC和DPPE单层的厚度和折射率
机译:用于薄膜厚度和光学薄膜折射率测量的外差干涉仪
机译:使用改良的迈克尔逊干涉仪确定液体的折射率。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:从棱镜 - 薄膜耦合测量确定薄膜的折射率,厚度和光学损耗
机译:用于定量折射率profile211测量的迈克尔逊干涉仪的设计
机译:用于测量多层薄膜的厚度和折射率使用角度解析光谱干扰图像根据偏振来测量多层薄膜的厚度和折射率
机译:薄膜厚度的测量,以及类似钻石的碳薄膜的折射率的测量
机译:光学记录介质,相同厚度的薄膜厚度测量方法,薄膜厚度控制方法,制造方法,薄膜厚度测量装置和薄膜厚度控制器
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